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硅材料紅外探傷儀
主要探測指標：裂縫，黑點，夾雜(通常為SiC)，隱裂，微晶
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2022/8/3 13:42:16 對比

硅材料檢測多晶硅檢測紅外探測
HS-WDI-2000系列研究級數碼3D金相顯微鏡
北京合能陽光新能源技術有限公司成功地設計開發出高性能HS-WDI-2000型高級數碼正置金相顯微鏡。選用優質的光學元件，使它具有出色的光學系統設計，可獲得高清晰...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2022/7/8 14:02:51 對比

半導體研究級數碼3D金相顯微鏡
紅外探傷測試儀
可從四個方向進行自動取樣■ 可快速進行樣塊的快速測量■ 軟件會對探測結果進行評價■ 可對檢測參數進行靈活設置■ 可進行像素管理和圖像處理■ 系統將對探測結果進行...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/2/28 2:04:57 對比

硅材料檢測多晶硅檢測紅外探測
多晶硅料檢測紅外探測儀
可從四個方向進行自動取樣■ 可快速進行樣塊的快速測量■ 軟件會對探測結果進行評價■ 可對檢測參數進行靈活設置■ 可進行像素管理和圖像處理■ 系統將對探測結果進行...
型號： NIR-01-3D 所在地：北京市參考價：面議更新時間：2018/2/20 13:06:48 對比

硅料檢測多晶硅檢測紅外探測
雜質含量測試儀（元素含量分析）
適合于對晶體進行雜質含量測試，其主要用途是對樣品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在內的多種個元素進行分析。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/19 11:42:15 對比

藍寶石原料雜質含量分析元素含量分析
RA2000圓度測試儀
RA2000是一種操作簡便的測量儀，用于對工件的幾何尺寸特別是圓度進行精確測量。此設備保證測量的準確性，為產品品質提供專業的保障。
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2017/12/5 10:24:33 對比

圓度測試
HS-CA2半自動硅片厚度TTV測試儀
適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2015/6/22 5:45:47 對比

硅片厚度TTV測試儀
HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統
HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統是一款廣泛應用于太陽能電池片制造過程中對表面厚度TTV電阻率無損測量的專業儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP...
型號：所在地：北京市參考價：面議更新時間：2014/12/29 12:31:30 對比

無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統

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北京合能陽光新能源技術有限公司

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